Felület feltérképezése dielektromos anyagi jellemzők alapján
Felület feltérképezése dielektromos anyagi jellemzők alapján
Jéhn Zoltán C891WU Bsc 2. évf.
Konzulens: Dobos Gábor, Réti Ferenc
Ha egy töltött elektróda közelébe dielektrumot helyezünk, az oda helyezett test
megváltoztatja az elektromos tér szerkezetét. Ezt a változást egy másik odahelyezett
elektródán mérhető feszültség segítségével lehet érzékelni. A TDK munkám, egy ilyen elven
alapuló mérőműszert építése volt. Ez alkalmas egy felület feltérképezésére, mind alak mind
minőség szempontjából.
Az eszköz egy elektródára váltófeszültséget kapcsol, majd a mérőfejben elhelyezett
másik elektródódán méri lock-in erősítővel a feszültséget. A mintát egy léptetőmotoros asztal
segítségével a mérőfej alatt mozgatva a feszültség változásából következtetni lehet a felület
paramétereire és azok eloszlására. A rendszer öt fő egységből áll: a mérőszonda és a hozzá
tartozó elektronika, a léptetőmotor vezérelte asztal, a lock-in erősítő, és a központi vezérlő
egység. A mérőszonda elektronikája a lock-in erősítő által előállított referencia jelet erősítés
után rákapcsolja forráselektródára, majd a mérőelektródán kicsatolható feszültséget erősíti.
Az így erősített jelet a lock-in erősítő méri és a vezérlőegység tárolja. A léptetőmotoros
asztalt szintén a központi vezérlő irányítja, amely az asztal pozíciójának függvényében
feljegyzi a mért értékeket. A vezérlő ezek után az adatokat USB porton keresztül elküldi a
számítógépnek, ahol a mérés után megjelenik a felület képe.
A jelenséget számítógépes szimulációkkal vizsgáltam, és ennek segítségével
optimalizáltam a mérőszonda paramétereit. A szondát és a hozzá tartozó elektronikát
megépíttettem. A vezérlőegységet elkészítettem, felprogramoztam, és egy számítógépes
programot írtam az eszköz irányítására, a mérési adatok kiértékelésére.
Az eddigi eredmények szerint az eszköz használható a különböző vezetőképességű
felületdarabok megkülönböztetésére (pl. nyomtatott áramkör vezetékezésének
feltérképezésére akár eltemetett rétegekben is), eltérő dielektromos állandójú felületrészek
megkülönbözetésére, valamint homogén anyagú minták alakjának meghatározására.
A szimulációk alapján megállapítottam, hogy fotolitográfiás módszerekkel építhető
egy olyan mérőfej mátrix, amely lehetővé teszi a minta feltérképezését annak mechnikai
mozgatása nélkül. Ennek tervezése és legyártása folyamatban van.
Felhasznált irodalom:
1.
C. Schenk, U. Tietze, Analóg és digitális áramkörök, Műszaki Könyvkiadó,
Budapest, 2000
2.
G.G. Raju, Dielectrics in Electric Fields, Marcel Dekker Inc., New York, 2003
szerző
-
Jéhn Zoltán
fizika
nappali
konzulensek
-
Dobos Gábor
Tudományos segédmunkatárs, Atomfizika Tanszék -
Dr. Réti Ferenc
Tudományos Főmunkatárs, Atomfizika Tanszék