Analóg-digitális átalakítók tesztelése a gyakorlatban, maximum likelihood becsléssel

Az analóg-digitális átalakítók tesztelésére számos eljárás áll rendelkezésre. Ezek a szakirodalomban publikált, világszerte használt, szabványosított módszerek. A mérési regisztrátumokból azonban még több információ kinyerhető. Jelen dolgozat egy dinamikus A/D tesztelési eljárásra, az időtartományban végzett szinuszillesztéses vizsgálatra koncentrál. A szinuszjel paramétereinek maximum likelihood (ML) becslése jelenleg nem szabványosított, de pontosabb becslőket ad a tesztelt eszköz bemenetén lévő szinuszjel paramétereire, mint a jelenleg alkalmazandó legkisebb négyzetek módszere (least squares, LS) szerinti illesztés. Így az átalakító minőségi jellemzői (az adatlapon szereplő értékek) nagyobb pontossággal számíthatók. Természetesen ez az elméletileg jobban megalapozott eljárás számos gyakorlati problémát vet fel. Ez a dolgozat számba veszi a ML becslési eljárás gyakorlati megvalósításának nehézségeit, és megoldásokat javasol ezek leküzdésére. Ezen kívül mérési és szimulációs eredmények segítségével hasonlítja össze a szabványos és nem szabványos tesztelési eljárásokat.

szerző

• 
  Virosztek Tamás
  villamosmérnöki
  nappali

konzulens

• 
  Dr. Kollár István
  egyetemi tanár, Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék
  

helyezés