Regisztráció és bejelentkezés

AFM-es felületi töltéssűrűség szimulációja

Atomerő mikroszkóppal való fémezett felületű minta felületi töltéssűrűségének mérése során kritikus a tű és a minta közötti kapacitás ismerete.

A kapacitás értékét közelítések mellett lehetséges analitikusan kifejezni.

Numerikus szimulációval pontosabban ismerhetjük az értékét, ezáltal a felbontás nő és a mérési zaj csökken.

A szimuláció során a lehetséges párhuzamosításokat felhasználva a számítási időt elfogadhatóra csökkentettük,

ami akár online feldolgozást is lehetővé teszi.

szerző

  • Bakró Nagy István
    villamosmérnöki
    nappali

konzulens

  • Reichardt András
    egyetemi tanársegéd, Szélessávú Hírközlés és Villamosságtan Tanszék