AFM-es felületi töltéssűrűség szimulációja
Atomerő mikroszkóppal való fémezett felületű minta felületi töltéssűrűségének mérése során kritikus a tű és a minta közötti kapacitás ismerete.
A kapacitás értékét közelítések mellett lehetséges analitikusan kifejezni.
Numerikus szimulációval pontosabban ismerhetjük az értékét, ezáltal a felbontás nő és a mérési zaj csökken.
A szimuláció során a lehetséges párhuzamosításokat felhasználva a számítási időt elfogadhatóra csökkentettük,
ami akár online feldolgozást is lehetővé teszi.
szerző
-
Bakró Nagy István
villamosmérnöki
nappali
