Optikai átviteli függvény mérése vonalszórás függvény detektálásával
Az optikai rendszerek minőségének vizsgálatára, és hibáinak ellenőrzésére számos módszer létezik. Ezen módszerek közül az optikai átviteli függvény vizsgálatának jelentőségét az adja, hogy a felhasználó és a végellenőrző számára ennek segítségével pontosan összehasonlítható a különböző képalkotó rendszerek minősége adott körülmények között, valamint egyszerre mérhető valamennyi aberráció együttes hatása. Így pontosabban megállapítható a képalkotó rendszerek alkalmazhatósága egy bizonyos feladatra, jobban, mint a gyártók által a felhasználók számára rendelkezésre bocsátott specifikációk alapján.
Munkánk során az optikai átviteli függvény mérését egy megvilágított precíziós résről az objektív által létrehozott vonalszórás függvény detektálásával valósítottuk meg. Ehhez egy alacsony kiolvasási zajjal rendelkező ASI ZWO 120MM monokróm CMOS detektort használtunk, melynek vezérlését, és az adatok feldolgozását Labview környezetben alakítottuk. Így korszerűsíteni tudtuk a Mechatronika, Optika és Gépészeti Informatika Tanszék tulajdonában lévő mérőberendezést, lehetővé téve annak felhasználását hallgatói mérésekhez, valamint projektek során használt képalkotó rendszerek specifikációinak meghatározásához.
