Regisztráció és bejelentkezés

Sziklarézsű-állékonyság vizsgálata távérzékelési módszerek alkalmazásával

Hagyományos esetben egy sziklarézsű tagoltsági viszonyainak feltérképezésére geológus kompaszt használunk. Ez egyszerű és olcsó megoldás, ugyanakkor felmerülhet a kérdés, hogy elegendő-e néhány tucat pont vizsgálata egy erősen tagolt felület megismeréséhez és kiértékeléséhez. Az is előfordulhat, hogy a kompasszal fizikailag lehetetlen, vagy életveszélyes volna megközelíteni a sziklarézsűt és méréseket végezni.

Ilyen esetekben célszerű lehet ún. távérzékelési módszerekhez folyamodni, mint a lézerszkennelés vagy a fotogrammetria. Ezekkel a módszerekkel – nevükből adódóan – nem szükséges a biztonságosnál jobban megközelíteni a rézsűt, ráadásul nagyjából ugyanannyi terepi munkával nagyságrendekkel több információhoz juthatunk, mint hagyományos módszerekkel, ezáltal pedig teljesebb képet kaphatunk a vizsgált felszínről.

TDK dolgozatom célja a fenti állítások helyességének igazolása és bemutatása konkrét esettanulmányokon keresztül, melyekben összehasonlítom a különböző helyszíneken, különböző módszerekkel történt adatnyerés és feldolgozás eredményeit.

szerző

  • Németh János Gábor
    Szerkezet-építőmérnök mesterszak (MSc)
    mesterképzés (MA/MSc)

konzulensek

  • Dr. Görög Péter
    egyetemi docens, Geotechnikai és Mérnökgeológia Tanszék
  • Dr. Török Ákos
    egyetemi tanar, Geotechnikai és Mérnökgeológia Tanszék